TE157-Q 徑向分辨率測(cè)試圖(IEC TC 84)
徑向分辨率測(cè)試圖(IEC TC 84)TE157-Q是為檢查相機(jī)的徑向分辨率而設(shè)計(jì)的。主要有一個(gè)180周期的西門子星組成。特性類型反射式透射式規(guī)格點(diǎn)擊規(guī)格表鏈接選擇或按需求定制縱橫比4:3 16:9
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徑向分辨率測(cè)試圖(IEC TC 84)
TE157-Q是為檢查相機(jī)的徑向分辨率而設(shè)計(jì)的。主要有一個(gè)180周期的西門子星組成。
特性
類型 | 反射式 透射式 |
規(guī)格 | 點(diǎn)擊規(guī)格表鏈接選擇或按需求定制 |
縱橫比 | 4:3 16:9 |